IEC 61326-2-7:2025

IEC 61326-2-7 ®
Édition 1.0 2025-12
NORME
INTERNATIONALE
Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire - Exigences
relatives à la CEM -
Partie 2-7: Exigences particulières - Configurations d'essai, conditions de
fonctionnement, niveaux d'essai et critères de performance applicables aux
dispositifs équipés d'interfaces Ethernet-APL
ICS 17.220.20; 25.040.40; 33.100.20 ISBN 978-2-8327-1599-4

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La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
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SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 3
1 Domaine d'application . 5
2 Références normatives . 5
3 Termes, définitions et abréviations . 6
3.1 Termes et définitions . 6
3.2 Abréviations . 10
4 Généralités . 10
4.1 Généralités . 10
4.2 Considérations générales relatives aux essais de CEM des dispositifs avec
l'interface APL . 10
4.3 Structure d'un système APL . 10
4.4 Structure de raccordement à l'écran d'un système APL . 12
5 Plan d'essai de CEM . 14
5.1 Généralités . 14
5.2 Configuration de l'EUT lors des essais . 16
5.3 Conditions de fonctionnement de l'EUT lors des essais . 16
5.4 Spécification des performances fonctionnelles . 16
5.5 Description de l'essai . 16
6 Exigences relatives à l'immunité . 17
6.1 Généralités . 17
6.2 Conditions lors de l'essai . 18
6.3 Exigences pour les essais d'immunité . 18
6.3.1 Généralités . 18
6.3.2 Montage d'essai de CEM . 20
6.4 Aspects aléatoires . 49
6.5 Critères de performance . 49
6.5.1 Généralités . 49
6.5.2 Critère de performance A. 49
6.5.3 Critère de performance B. 49
6.5.4 Critère de performance C . 50
7 Exigences relatives à l'émission . 50
7.1 Conditions applicables pendant les mesurages . 50
7.2 Limites d'émission . 50
8 Résultats d'essai et rapport d'essai . 51
9 Instructions pour l'utilisation . 51
Bibliographie . 52

Figure 1 – Structure de système APL pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou
plusieurs ACCES DE LIAISON MONTANTE Ethernet . 11
Figure 2 – Structure de système APL pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou
plusieurs accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL . 12
Figure 3 – Vue d'ensemble de l'infrastructure APL . 13
Figure 4 – Communication du MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL . 15
Figure 5 – Montage d'essai DES pour un DISPOSITIF DE TERRAIN APL avec ACCES APL et
accès d'alimentation facultatif . 22
Figure 6 – Montage d'essai de RF rayonnée pour un DISPOSITIF DE TERRAIN APL avec
ACCES APL et accès d'alimentation facultatif . 23
Figure 7 – Montage d'essai en salves pour un DISPOSITIF DE TERRAIN APL avec ACCES
APL et accès d'alimentation facultatif . 24
Figure 8 – Montage d'essai de tension de choc pour un DISPOSITIF DE TERRAIN APL avec
ACCES APL et accès d'alimentation facultatif . 25
Figure 9 – Montage d'essai de tension de choc pour un DISPOSITIF DE TERRAIN APL avec
ACCES APL – Vue détaillée du montage d'essai pour lignes blindées . 26
Figure 10 – Montage d'essai de perturbations RF conduites pour un DISPOSITIF DE
TERRAIN APL avec ACCES APL et accès d'alimentation facultatif . 27
Figure 11 – Montage d'essai de tension conduite en mode commun pour un DISPOSITIF
DE TERRAIN APL avec ACCES APL et accès d'alimentation facultatif . 28
Figure 12 – Montage d'essai DES pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou
plusieurs ACCES DE LIAISON MONTANTE Ethernet . 30
Figure 13 – Montage d'essai DES pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou
plusieurs accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL . 31
Figure 14 – Montage d'essai DES pour COMMUTATEURS DE PUISSANCE APL . 32
Figure 15 – Montage d'essai de perturbations RF rayonnées pour COMMUTATEURS DE
CHAMP APL avec un ou plusieurs ACCES DE LIAISON MONTANTE Ethernet . 34
Figure 16 – Montage d'essai de perturbations RF rayonnées pour COMMUTATEURS DE
CHAMP APL avec un ou plusieurs accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL . 35
Figure 17 – Montage d'essai de perturbations RF rayonnées pour COMMUTATEURS DE
PUISSANCE APL . 36
Figure 18 – Montage d'essai de salve pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou
plusieurs ACCES DE LIAISON MONTANTE Ethernet . 38
Figure 19 – Montage d'essai de salve pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou
plusieurs accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL . 39
Figure 20 – Montage d'essai de salve pour COMMUTATEURS DE PUISSANCE APL . 40
Figure 21 – Essai de tension de choc pour ACCES APL . 41
Figure 22 – Montage d'essai de perturbations RF conduites pour COMMUTATEURS DE
CHAMP APL avec un ou plusieurs ACCES DE LIAISON MONTANTE Ethernet . 42
Figure 23 – Montage d'essai de perturbations RF conduites pour COMMUTATEURS DE
CHAMP APL avec un ou plusieurs accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL . 43
Figure 24 – Montage d'essai de perturbations RF conduites pour COMMUTATEURS DE
PUISSANCE APL . 44
Figure 25 – Montage d'essai de tension conduite en mode commun pour
COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou plusieurs ACCES DE LIAISON MONTANTE
Ethernet . 46
Figure 26 – Montage d'essai de tension conduite en mode commun pour
COMMUTATEURS DE CHAMP APL avec un ou plusieurs accès alimentés de LIGNE
PRIMAIRE APL . 47
Figure 27 – Montage d'essai de tension conduite en mode commun pour
COMMUTATEURS DE PUISSANCE APL . 48

Tableau 1 – Options de blindage minimales exigées qu'un accès doit fournir . 13
Tableau 2 – Type et longueur des câbles raccordés aux accès de l'EUT . 17
Tableau 3 – Exigences pour les essais d'immunité des équipements destinés à être
utilisés dans un ENVIRONNEMENT ELECTROMAGNETIQUE INDUSTRIEL . 18
Tableau 4 – Exigences pour les essais d'immunité des équipements destinés à être
utilisés dans un ENVIRONNEMENT ELECTROMAGNETIQUE SPECIFIE DE COMMANDE DE
ROCESSUS . 19
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire -
Exigences relatives à la CEM -
Partie 2-7: Exigences particulières - Configurations d'essai, conditions de
fonctionnement, niveaux d'essai et critères de performance applicables
aux dispositifs équipés d'interfaces Ethernet-APL

AVANT-PROPOS
1) La Commission Électrotechnique Internationale (IEC) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de l'IEC). L'IEC a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. À cet effet, l'IEC – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de l'IEC"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux
travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'IEC, participent également aux
travaux. L'IEC collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de l'IEC concernant les questions techniques représentent, dans la mesure du
possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de l'IEC intéressés
sont représentés dans chaque comité d'études.
3) Les Publications de l'IEC se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de l'IEC. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que l'IEC
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; l'IEC ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de l'IEC s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de l'IEC dans leurs publications nationales
et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de l'IEC et toutes publications nationales ou
régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) L'IEC elle-même ne fournit aucune attestation de conformité. Des organismes de certification indépendants
fournissent des services d'évaluation de conformité et, dans certains secteurs, accèdent aux marques de
conformité de l'IEC. L'IEC n'est responsable d'aucun des services effectués par les organismes de certification
indépendants.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à l'IEC, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou mandataires,
y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités nationaux de l'IEC,
pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre dommage de quelque
nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais de justice) et les dépenses
découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de l'IEC ou de toute autre Publication de l'IEC,
ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L'IEC attire l'attention sur le fait que la mise en application du présent document peut entraîner l'utilisation d'un
ou de plusieurs brevets. L'IEC ne prend pas position quant à la preuve, à la validité et à l'applicabilité de tout
droit de brevet revendiqué à cet égard. À la date de publication du présent document, l'IEC n'avait pas reçu
notification qu'un ou plusieurs brevets pouvaient être nécessaires à sa mise en application. Toutefois, il y a lieu
d'avertir les responsables de la mise en application du présent document que des informations plus récentes
sont susceptibles de figurer dans la base de données de brevets, disponible à l'adresse https://patents.iec.ch.
L'IEC ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de brevets.
L'IEC 61326-2-7 a été établie par le sous-comité 65A: Aspects systèmes, du comité études 65
de l'IEC: Mesure, commande et automation dans les processus industriels. Il s'agit d'une Norme
internationale.
La présente version bilingue (2026-11) correspond à la version anglaise monolingue publiée en
2025-12.
La version française de cette norme n'a pas été soumise au vote.
La langue employée pour l'élaboration de cette Norme internationale est l'anglais.
Ce document a été rédigé selon les Directives ISO/IEC, Partie 2, il a été développé selon les
Directives ISO/IEC, Partie 1 et les Directives ISO/IEC, Supplément IEC, disponibles sous
www.iec.ch/members_experts/refdocs. Les principaux types de documents développés par
l'IEC sont décrits plus en détail sous www.iec.ch/publications.
Les termes en PETITES MAJUSCULES dans le texte sont définis à l'Article 3.
Une liste de toutes les parties de la série IEC 61326, publiées sous le titre général Matériel
électrique de mesure, de commande et de laboratoire, se trouve sur le site web de l'IEC.
Le comité a décidé que le contenu de ce document ne sera pas modifié avant la date de stabilité
indiquée sur le site web de l'IEC sous webstore.iec.ch dans les données relatives au document
recherché. À cette date, le document sera
– reconduit,
– supprimé, ou
– révisé.
1 Domaine d'application
En plus des exigences données dans l'IEC 61326-1, la présente partie de l'IEC 61326 spécifie
les exigences d'essai en matière de CEM pour les équipements d'automatisation de processus
COUCHE PHYSIQUE AVANCEE Ethernet) conforme à
utilisant au moins un accès Ethernet-APL (
l'IEC TS 63444. Le type d'équipement couvert par le présent document comprend les
DISPOSITIFS D'INFRASTRUCTURE tels que les commutateurs ainsi que les dispositifs de mesure et
de commande. Le présent document fournit des exigences relatives aux montages d'essai de
CEM de l'interface APL pour les dispositifs destinés à être utilisés pour la commande et la
mesure des processus.
Les autres fonctions du matériel sont toujours couvertes par les autres parties de la série
IEC 61326.
NOTE Ethernet-APL utilise la couche physique Ethernet 10BASE-T1L de l'IEEE Std. 802.3-2022, adaptée à une
utilisation dans le cadre de la communication en duplex intégral sur une seule paire équilibrée de conducteurs.
Les niveaux d'essai sont fondés sur l'environnement prévu, tel qu'indiqué dans la spécification
du produit ou la documentation d'utilisation, et choisis de manière appropriée dans
l'IEC 61326 -1.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu'ils constituent, pour tout ou partie
de leur contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule
l'édition citée s'applique. Pour les références non datées, la dernière édition du document de
référence s'applique (y compris les éventuels amendements).
IEC 60050-161:1990, Vocabulaire Électrotechnique International (IEV) - Partie 161:
Compatibilité électromagnétique
IEC 61000-3-2, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 3-2: Limites - Limites pour les
émissions de courant harmonique (courant appelé par les appareils ≤ 16 A par phase)
IEC 61000-3-3, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 3-3: Limites - Limitation des
variations de tension, des fluctuations de tension et du papillotement dans les réseaux publics
d'alimentation basse tension, pour les matériels ayant un courant assigné ≤ 16 A par phase et
non soumis à un raccordement conditionnel
IEC 61000-3-11, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 3-11: Limites - Limitation des
variations de tension, des fluctuations de tension et du papillotement dans les réseaux publics
d'alimentation basse tension - Équipements ayant un courant assigné inférieur ou égal à ≤ 75
A et soumis à un raccordement conditionnel
IEC 61000-3-12, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 3-12: Limites - Limites pour
les courants harmoniques produits par les appareils connectés aux réseaux publics basse
tension ayant un courant appelé > 16 A et ≤ 75 A par phase
IEC 61000-4-2:2025, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-2: Techniques d'essai
et de mesure - Essai d'immunité aux décharges électrostatiques
IEC 61000-4-3:2020, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-3: Techniques d'essai
et de mesure - Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques
IEC 61000-4-4:2012, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-4: Techniques d'essai
et de mesure - Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves
IEC 61000-4-5:2014, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-5: Techniques d'essai
et de mesure - Essai d'immunité aux ondes de choc
IEC 61000-4-6:2023, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-6: Techniques d'essai
et de mesure - Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs aux fréquences
radioélectriques
IEC 61000-4-8:2009, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-8: Techniques d'essai
et de mesure - Essai d'immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau
IEC 61000-4-11:2020, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-11: Techniques
d'essai et de mesure - Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension pour les appareils à courant d'entrée inférieur ou égal à 16 A par phase
IEC 61000-4-16:2015, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-16: Techniques
d'essai et de mesure - Essai d'immunité aux perturbations conduites en mode commun dans la
plage de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
IEC 61000-4-29:2000, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-29: Techniques
d'essai et de mesure - Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension sur les accès d'alimentation en courant continu
IEC 61326-1:2020, Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire - Exigences
relatives à la CEM - Partie 1: Exigences générales
IEC TS 63444:2023, Industrial networks - Ethernet-APL port profile specification (disponible en
anglais seulement)
CISPR 11:2024, Appareils industriels, scientifiques et médicaux - Caractéristiques de
perturbations radioélectriques - Limites et méthodes de mesure
IEEE Std 802.3-2022, IEEE Standard for Ethernet (disponible en anglais seulement)
3 Termes, définitions et abréviations
3.1 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l'IEC 60050-161 ainsi que
les suivants s'appliquent.
L'ISO et l'IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées
en normalisation, consultables aux adresses suivantes:
– IEC Electropedia: disponible à l'adresse https://www.electropedia.org/
– ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse https://www.iso.org/obp
3.1.1
couche physique avancée
APL
couche physique, spécifiée dans l'IEC TS 63444, fondée sur la norme 10BASE-T1L selon
l'IEEE Std 802.3-2022 avec des fonctions supplémentaires facultatives telles que la sécurité
intrinsèque ou la puissance sur deux fils
Note 1 à l'article: L'abréviation 'APL" est dérivée du terme anglais développé correspondant "advanced physical
layer".
3.1.2
maître d'essai de CEM de l'APL
dispositif utilisé pour soumettre à essai la communication ainsi que l'intégrité des données de
processus d'un DISPOSITIF DE TERRAIN
Note 1 à l'article: Il fournit un accès Ethernet, qui peut être directement connecté à l'EUT ou connecté à ce dernier
en utilisant un COMMUTATEUR DE CHAMP APL ou un COMMUTATEUR DE PUISSANCE APL. En outre, le MAITRE D'ESSAI DE
CEM DE L'APL fournit au moins une sortie de défaillance permettant d'indiquer une perturbation de la communication.
3.1.3
dispositif de terrain APL
dispositif muni d'un accès de charge de DERIVATION qui envoie ou reçoit des valeurs de
processus
Note 1 à l'article: Il peut également posséder un accès d'alimentation en option.
3.1.4
segment APL
segment constitué de deux accès F comportant chacun un circuit PHY compatible 10BASE-T1L,
relié à chaque extrémité d'un câble blindé à deux fils
Note 1 à l'article: Un SEGMENT APL peut éventuellement être équipé d'un maximum de deux DISPOSITIFS AUXILIAIRES
et peut comporter jusqu'à 10 CONNEXIONS de borne en ligne. Un DISPOSITIF AUXILIAIRE correspond à une CONNEXION
EN LIGNE. Par exemple, deux DISPOSITIFS AUXILIAIRES raccordés à un SEGMENT APL réduiront de deux le nombre de
CONNEXIONS en ligne disponibles.
Note 2 à l'article: Un SEGMENT APL est soit une LIGNE PRIMAIRE, soit une DERIVATION.
3.1.5
commutateur APL
commutateur Ethernet comprenant au moins un accès conforme à l'APL
3.1.6
accès APL
interface électrique et mécanique d'un dispositif avec un SEGMENT APL
3.1.7
dispositif auxiliaire
dispositif connecté dans un SEGMENT APL et qui ne comprend pas de circuit PHY compatible
10BASE-T1L, il peut par exemple comporter une charge électrique ou introduire des pertes
d'insertion du signal de communication
Note 1 à l'article: Un dispositif de protection contre les surtensions est un exemple de DISPOSITIF AUXILIAIRE.
3.1.8
connexion
connexion en ligne
dispositif accouplé ou combinaison de dispositifs utilisés pour raccorder des câbles ou des
éléments de câbles à d'autres câbles ou appareils spécifiques à l'application
3.1.9
accès en cascade
ACCES APL utilisé dans les réseaux à chaîne d'éléments en boucle alimentés
Note 1 à l'article: Si l'ACCES EN CASCADE est utilisé dans un réseau en anneau alimenté, il doit s'agir d'un accès de
source d'alimentation ou d'un accès de charge électrique, en fonction de l'état de l'anneau.
3.1.10
dégradation (de fonctionnement)
écart non désiré des caractéristiques de fonctionnement d'un dispositif, d'un appareil ou d'un
système par rapport aux caractéristiques attendues
Note 1 à l'article: Une DEGRADATION peut être un défaut de fonctionnement temporaire ou permanent.
[SOURCE: IEC 60050-161:1990, 161-01-19]
3.1.11
commutateur de champ
COMMUTATEUR APL qui comporte au moins un accès sur lequel une DERIVATION peut être
connectée
3.1.12
dispositif d'infrastructure
dispositif qui comporte au moins un accès de DERIVATION et au moins un ACCES DE LIAISON
MONTANTE Ethernet
3.1.13
environnement électromagnétique industriel
environnement existant dans des lieux caractérisés par un réseau électrique distinct, fourni
dans la plupart des cas à partir d'un transformateur à haute ou moyenne tension, dédié à
l'approvisionnement d'installations alimentant des usines de fabrication ou similaires et
présentant l'une ou plusieurs des conditions suivantes:
– la commutation fréquente d'importantes charges inductives ou capacitives;
– la présence de courants élevés et des champs magnétiques associés;
– la présence d'équipements industriels, scientifiques et médicaux (ISM) (par exemple,
soudeuses)
3.1.14
laboratoire
zone d'essai et de mesure spécifiquement utilisée à des fins d'analyse, d'essai et d'entretien,
et dont les équipements sont utilisés par du personnel formé
3.1.15
perte de fonction
fonctionnement de l'équipement alors qu'(au moins) une de ses fonctions est inutilisable
3.1.16
niveau de performance
fonctionnement spécifié d'un équipement dans les conditions d'utilisation prévue
3.1.17
ligne à grande distance
ligne de plus de 30 m située à l'intérieur ou sortant d'un bâtiment (y compris les lignes
d'installations extérieures)
3.1.18
perte de performance
NIVEAU DE PERFORMANCE spécifié
fonctionnement de l'équipement en dehors d'un
3.1.19
PHY
circuit de la couche physique exigé pour la mise en œuvre des fonctions de la couche physique
3.1.20
commutateur de puissance
commutateur comprenant au moins un accès assurant l'alimentation électrique d'une LIGNE
PRIMAIRE
3.1.21
environnement électromagnétique spécifié de commande de processus
environnements tant intérieurs qu'extérieurs, fondés sur les exigences de l'industrie de
transformation, en particulier les usines de fabrication de produits
chimiques/pétrochimiques/pharmaceutiques
EXEMPLE La différence entre cet environnement électromagnétique et l'environnement industriel général (voir
3.1.13) tient aux mesures d'atténuation mises en œuvre contre les phénomènes électromagnétiques et qui
conduisent à un environnement électromagnétique spécifié pour lequel les valeurs d'essai ont permis de démontrer
en pratique la grande disponibilité.
L'environnement d'application industrielle et son environnement électromagnétique spécifié présentent généralement
les caractéristiques suivantes:
– zone industrielle à accès limité;
– utilisation limitée des émetteurs mobiles;
– câbles dédiés aux lignes d'alimentation, de commande, de signal ou de communication;
– séparation entre les câbles d'alimentation, de commande, de signal ou de communication;
– bâtiment d'usine principalement constitué d'une construction métallique;
– protection contre les surtensions/la foudre assurée par des mesures appropriées (par exemple, construction
métallique du bâtiment ou utilisation de dispositifs de protection);
– systèmes de chauffage des tuyaux alimentés par l'alimentation principale en courant alternatif;
– absence de poste à haute tension à proximité des zones sensibles;
– présence d'équipements ISM relevant du Groupe 2 de la CISPR 11 utilisant uniquement des fréquences ISM à
faible puissance;
– personnel compétent,
– maintenance périodique des équipements et systèmes;
– application de lignes directrices pour le montage et l'installation des équipements et systèmes.
3.1.22
dérivation
SEGMENT APL qui relie un dispositif de terrain à un COMMUTATEUR DE CHAMP
Note 1 à l'article: Un segment de DERIVATION APL peut avoir une longueur de câble maximale de 200 m.
Note 2 à l'article: Un segment de DERIVATION APL peut éventuellement être équipé d'un maximum de deux
DISPOSITIFS AUXILIAIRES et comporter jusqu'à quatre CONNEXIONS de borne en ligne.
3.1.23
ligne primaire
SEGMENT APL qui relie un COMMUTATEUR DE PUISSANCE à un COMMUTATEUR DE CHAMP ou un
COMMUTATEUR DE CHAMP à un COMMUTATEUR DE CHAMP
Note 1 à l'article: Un segment de LIGNE PRIMAIRE APL peut avoir une longueur de câble maximale de 1 000 m.
Note 2 à l'article: Un segment de LIGNE PRIMAIRE APL peut éventuellement être équipé d'un maximum de deux
DISPOSITIFS AUXILIAIRES et comporter jusqu'à 10 CONNEXIONS de borne en ligne.
3.1.24
accès de liaison montante
accès Ethernet d'un DISPOSITIF D'INFRASTRUCTURE APL utilisé pour la CONNEXION au réseau
Ethernet
3.2 Abréviations
AE (Auxiliary Equipment) équipement auxiliaire
APL (Advanced Physical Layer) couche physique
CCC (Capacitive Coupling Clamp) pince de couplage capacitif
CDN (Coupling/Decoupling Network) réseau de couplage/découplage
CN (Coupling Network) réseau de couplage
CEM compatibilité électromagnétique
DES décharge électrostatique
EUT (Equipment Under Test) équipement en essai
FD (Field Device) DISPOSITIF DE TERRAIN
HCP (Horizontal Coupling Plate) plan de couplage horizontal
GRP (Ground Reference Plate) plan du sol de référence
ICMP (Internet Control Message Protocol) protocole des messages de commande
Internet
IP (Internet Protocol) protocole Internet
RF radiofréquence
4 Généralités
4.1 Généralités
Le présent document spécifie les exigences et les montages d'essai pour la mise à l'essai de
l'infrastructure APL et des DISPOSITIFS DE TERRAIN.
4.2 Considérations générales relatives aux essais de CEM des dispositifs avec
l'interface APL
Les règles générales suivantes s'appliquent lors de la mise à l'essai des dispositifs APL:
– Les essais de CEM des DISPOSITIFS D'INFRASTRUCTURE et des dispositifs de terrain avec
l'interface APL sont fondés sur la série IEC 61326.
– Les niveaux d'essai et les exigences d'essai pour les environnements industriels sont
spécifiés dans le Tableau 3 du présent document. Ces niveaux correspondent aux
exigences minimales pour les essais de CEM des dispositifs APL.
– Pour les environnements de l'industrie de transformation, tels que les usines de fabrication
de produits chimiques/pétrochimiques/pharmaceutiques, des essais supplémentaires
peuvent être exigés. Les niveaux d'essai les plus élevés exigés pour ces environnements
sont spécifiés dans le Tableau 4 du présent document.
Tous les essais peuvent être effectués sur un EUT unique ou les essais peuvent être répartis
entre plusieurs EUT. Dans ce dernier cas, chaque résultat d'essai doit être traçable jusqu'à
l'EUT concerné. La séquence d'essai impliquant plusieurs EUT est facultative.
4.3 Structure d'un système APL
L'APL permet la mise en place de différentes configurations de système, en utilisant des
CONNEXIONS réseau Ethernet de 10/100/1 000 Mbit/s avec des LIGNES PRIMAIRES APL
alimentées.
La Figure 1 donne un exemple de réseau APL connecté à un réseau de commande utilisant un
réseau Ethernet. Dans ce cas, le réseau Ethernet dorsal de 10/100/1 000 MBit/s est
directement connecté aux COMMUTATEURS DE CHAMP APL. Dans un réseau Ethernet, un système
APL prend également en charge des topologies en anneau redondantes.

Anglais Français
Auxiliary power Alimentation auxiliaire
Ethernet backbone Réseau Ethernet central
a a
Ethernet backbone Réseau Ethernet central
APL FIELD SWITCH with Ethernet uplink port(s) COMMUTATEUR DE CHAMP APL avec un ou plusieurs
accès de liaison montante Ethernet
APL SPUR DÉRIVATION APL
FD FD
Légende
FD DISPOSITIF DE TERRAIN APL
a
Dans le cas d'une topologie en anneau
Figure 1 – Structure de système APL pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL
avec un ou plusieurs ACCES DE LIAISON MONTANTE Ethernet
La Figure 2 représente un réseau APL connecté à un réseau de commande utilisant une LIGNE
PRIMAIRE APL alimentée. La liaison de communication entre le réseau de commande et le
SEGMENT APL est effectuée par l'intermédiaire d'un COMMUTATEUR DE PUISSANCE APL qui assure
également l'alimentation de la LIGNE PRIMAIRE APL. Dans le cas d'une LIGNE PRIMAIRE APL
alimentée, un système APL n'est actuellement pas en mesure de prendre en charge les
topologies en anneau redondantes.
Anglais Français
Auxiliary power Alimentation auxiliaire
Ethernet backbone Réseau Ethernet central
APL power switch Commutateur de puissance APL
APL powered TRUNK LIGNE PRIMAIRE alimentée APL
APL FIELD SWITCH with TRUNK powered port(s) COMMUTATEUR DE CHAMP APL avec un ou plusieurs
accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE
APL SPUR DÉRIVATION APL
FD FD
Légende
DISPOSITIF DE TERRAIN APL
FD
Figure 2 – Structure de système APL pour COMMUTATEURS DE CHAMP APL
avec un ou plusieurs accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL
DERIVATION APL aboutit à un DISPOSITIF DE TERRAIN qui peut également être alimenté
Chaque
conformément à la classification applicable des zones dangereuses, de sorte que les
DISPOSITIFS DE TERRAIN, qui sont généralement certifiés intrinsèquement sûrs, peuvent être
situés dans une zone dangereuse évaluée en conséquence.
Chaque câble de LIGNE PRIMAIRE peut avoir une longueur inférieure ou égale à 1 000 m, en
fonction type de câble utilisé, de la perte de puissance due au câble et de la consommation
LIGNE PRIMAIRE. Le câble de DERIVATION peut avoir
électrique des composants raccordés à la
une longueur inférieure ou égale à 200 m, en fonction du type de câble utilisé.
4.4 Structure de raccordement à l'écran d'un système APL
La spécification de profil d'ACCES Ethernet-APL précise les options de blindage exigées en
fonction du type d'accès (voir Tableau 1). Bien qu'il soit recommandé d'établir une connexion
à faible impédance avec le système de liaison équipotentielle aux deux extrémités d'un blindage
de câble afin de limiter autant que possible les perturbations électromagnétiques, dans
certaines installations, cette solution peut s'avérer peu pratique, voire entraîner la formation de
boucles de courant. Lorsque c'est le cas, l'une des extrémités du câble doit être mise à la terre
de manière capacitive, tandis que l'autre extrémité doit être mise à la terre de manière directe.
Tableau 1 – Options de blindage minimales exigées qu'un accès doit fournir
Classe de l'accès Classe du segment
LIGNE PRIMAIRE DERIVATION
P Source d'alimentation Directe Capacitive
L Charge électrique Capacitive et directe Directe
C ACCES EN CASCADE Capacitive et directe Non applicable

Anglais Français
Power switch Commutateur de puissance
Optional Facultatif
FIELD DEVICE DISPOSITIF DE TERRAIN
Légende
P source d'alimentation
L charge électrique
C source d'alimentation de l'ACCES EN CASCADE
P
C charge électrique de l'ACCES EN CASCADE
L
NOTE 1 Si le système de liaison équipotentielle est régulé et équilibré, une mise à la terre directe du blindage des
deux côtés peut être utilisée.
NOTE 2 Un accès C est un ACCES EN CASCADE fonctionnant comme un accès source, un accès C est un ACCES
p L
EN CASCADE fonctionnant comme un accès de charge électrique.
Figure 3 – Vue d'ensemble de l'infrastructure APL
5 Plan d'essai de CEM
5.1 Généralités
Les essais CEM des EUT (DISPOSITIFS D'INFRASTRUCTURE et DISPOSITIFS DE TERRAIN APL)
doivent être appliqués à l'aide d'un MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL, associé à un COMMUTATEUR
DE CHAMP APL ou un COMMUTATEUR DE PUISSANCE APL, en fonction du type d'EUT soumis à
essai. Des montages d'essai spécifiques aux différents types d'EUT sont présentés au 6.3.2.
Le MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL doit comporter un accès Ethernet, lequel peut être relié à
l'EUT directement ou par l'intermédiaire d'un COMMUTATEUR DE CHAMP APL ou d'un
COMMUTATEUR DE PUISSANCE APL. De plus, le MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL doit comporter
au moins une sortie de défaillance afin d'indiquer toute perturbation de la communication. Les
critères de défaillance déclenchant l'activation de la sortie de défaillance sont présentés au 6.5.
Le MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL peut être utilisé pour la mise à l'essai de la communication
ainsi que pour mettre à l'essai l'intégrité des données de processus d'un DISPOSITIF DE TERRAIN.
En variante, deux MAITRES D'ESSAI DE CEM DE L'APL peuvent être utilisés: l'un pour soumettre
à essai la communication et l'autre pour soumettre à essai l'intégrité des données de processus.
Pour soumettre à essai la communication, le MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL doit envoyer en
continu des paquets de demande Ping ICMP à un EUT compatible IP et aux dispositifs d'un
EQUIPEMENT AUXILIAIRE (par exemple DISPOSITIFS DE TERRAIN ou COMMUTATEURS DE CHAMP) reliés
à l'EUT afin de vérifier si la communication avec ces dispositifs est valide ou perturbée. Tous
les accès de communication APL connectés de l'EUT doivent transporter des paquets ICMP
pendant les essais.
L'exemple de la Figure 4 illustre la manière dont le MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL
communique avec l'EUT et les DISPOSITIFS AUXILIAIRES en envoyant des paquets de demande
Ping ICMP et en recevant des paquets de réponse Ping ICMP pour vérifier si les liaisons de
communication sont actives et continuer à fournir une communication valide pendant les essais
CEM.
Anglais Français
APL EMC test master Maître d'essai de CEM de l'APL
APL power switch Commutateur de puissance APL
APL TRUNK power port Accès d'alimentation de LIGNE PRIMAIRE APL
APL TRUNK (cascade) load port Accès de charge (en cascade) de LIGNE PRIMAIRE
APL
APL field switch with APL TRUNK powered port(s) Commutateur de champ APL avec un ou plusieurs
accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL
APL TRUNK cascade power port Accès alimenté en cascade de LIGNE PRIMAIRE APL
EUT (APL field switch with APL TRUNK powered EUT (commutateur de champ APL avec un ou plusieurs
port(s)) accès alimentés de LIGNE PRIMAIRE APL)
APL field device 1 Dispositif de terrain APL 1
APL SPUR load port Accès de charge de DÉRIVATION APL
APL field device 2 Dispositif de terrain APL 2
APL SPUR power port Accès d'alimentation de DÉRIVATION APL
Légende
Lignes en pointillés:
Paquets de demande Ping ICMP envoyés du maître d'essai APL à l'EUT et aux DISPOSITIFS AUXILIAIRES
Paquets de réponse Ping ICMP renvoyés de l'EUT et des DISPOSITIFS AUXILIAIRES vers le maître d'essai APL
Figure 4 – Communication du MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL
Les paquets de demande Ping ICMP IPv4 émis par le MAITRE D'ESSAI DE CEM DE L'APL doivent
avoir une longueur de données utiles de 1 472 octets lors de la communication avec l'EUT et
chaque DISPOSITIF AUXILIAIRE pour un temps de cycle de 16 ms (± 2 ms). L'EUT et chaque
DISPOSITIF AUXILIAIRE doivent répondre par un paquet de réponse ICMP IPv4 d'une longueur
utile de 1 472 octets. Cela entraîne une utilisation de la liaison d'au moins 7,6 %. Si un autre
protocole est utilisé, la même utilisation minimale de la liaison doit être atteinte. Il convient que
les paquets de données soient répartis de manière régulière dans le temps. Si l'utilisation
minimale de la liaison ne peut pas être atteinte, il convient d'étendre la durée d'essai ou le
nombre d'événements d'essai pour tous les essais transitoires afin d'obtenir la même possibilité
statistique de perturber le signal de communication.
Un paquet ICMP IPv4 d'une longueur de données utiles de 1 472 octets permet d'obtenir la
taille de paquet Ethernet maximale autorisée de 1 518 octets, y compris l'en-tête Ethernet et la
séquence de vérification de trame. Pour les paquets IPv6, la longueur des données utiles des
paquets ICMP doit être réduite à 1 452 octets, car l'en-tête IP en IPv6 est plus long de 20 octets
par rapport à l'en-tête IP en IPv4.
Si un no
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