IEC 61000-4-1:2000

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2000-04
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM

BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-1:
Techniques d'essai et de mesure –
Vue d'ensemble de la série CEI 61000-4
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-1:
Testing and measurement techniques –
Overview of IEC 61000-4 series

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-1:2000
Numéros des publications Numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.

Publications consolidées Consolidated publications

Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications

la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,

Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incor-

publication de base incorporant l’amendement 1, et la porating amendment 1 and the base publication

publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.

et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. the content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfir- Information relating to the date of the reconfirmation
mation de la publication sont disponibles dans le of the publication is available in the IEC catalogue.
Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour Published yearly with regular updates
régulièrement (On-line catalogue)*
(Catalogue en ligne)*
• Bulletin de la CEI
• IEC Bulletin
Disponible à la fois au «site web» de la CEI*
Available both at the IEC web site* and
et comme périodique imprimé
as a printed periodical
Terminologie, symboles graphiques
Terminology, graphical and letter
et littéraux
symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur
For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro-
IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI).
(IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux
For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le
approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles
be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et
symbols for use on equipment. Index, survey and

compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617:
compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas.
Graphical symbols for diagrams.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre.
* See web site address on title page.

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2000-04
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM

BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-1:
Techniques d'essai et de mesure –
Vue d'ensemble de la série CEI 61000-4
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-1:
Testing and measurement techniques –
Overview of IEC 61000-4 series

 IEC 2000 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, any form or by any means, electronic or mechanical,
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les including photocopying and microfilm, without permission in
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http://www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
N
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61000-4-1 © CEI:2000
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4

INTRODUCTION .6

Articles
1 Domaine d’application et objet. 8

2 Références . 8
2.1 Références normatives . 8
2.2 Autres références. 12
3 Généralités .14
4 Définitions. 14
5 Structure des normes de la série CEI 61000-4. 14
6 Choix des essais . 16
Tableau 1 – Application des essais d'immunité basée sur l'emplacement (environnement) . 24
Tableau 2 – Application des essais d'immunité basée sur les accès de l'appareil en essai. 26

61000-4-1 © IEC:2000 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5

INTRODUCTION .7

Clause
1 Scope and object . 9

2 References . 9
2.1 Normative references. 9
2.2 Other references . 13
3 General. 15
4 Definitions. 15
5 Structure of the IEC 61000-4 series standards. 15
6 Selection of tests. 17
Table 1 – Applicability of immunity tests based on location (environment). 25
Table 2 – Applicability of immunity tests based on EUT ports . 27

– 4 – 61000-4-1 © CEI:2000
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

___________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-1: Techniques d'essai et de mesure –

Vue d’ensemble de la série CEI 61000-4

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-1 a été établie par le Comité d’études 77 de la CEI:
Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-1 de la série CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale
en CEM conformément au Guide 107 de la CEI.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition, parue en 1992. Cette deuxième
édition constitue une révision technique.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
77/225/FDIS 77/229/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2003. A cette
date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
61000-4-1 © IEC:2000 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

___________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-1: Testing and measurement techniques –

Overview of IEC 61000-4 series

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-1 has been prepared by IEC technical committee 77:
Electromagnetic compatibility.
This standard forms part 4-1 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in
accordance with IEC Guide 107.
This second edition cancels and replaces the first edition, published in 1992. This second
edition constitutes a technical revision.
The text of this standard is based on the following documents:

FDIS Report on voting
77/225/FDIS 77/229/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
2003. At this date, the publication will be
•
reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– 6 – 61000-4-1 © CEI:2000
INTRODUCTION
La CEI 61000 est publiée sous forme de plusieurs parties conformément à la structure

suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas des comités de produits)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d’essai
Partie 5: Guides d’installation et d’atténuation
Guides d’installation
Méthodes et dispositifs d’atténuation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaque partie est à son tour subdivisée en plusieurs parties, publiées soit comme Normes
internationales, soit comme spécifications techniques ou rapports techniques, dont certaines
ont déjà été publiées en tant que sections. D’autres seront publiées avec le numéro de la
partie, suivi d’un tiret et complété d’un second chiffre identifiant la subdivision (exemple:
61000-6-1).
61000-4-1 © IEC:2000 – 7 –
INTRODUCTION
The IEC 61000 series is published in several parts according to the following structure:

Part 1: General
General consideration (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity test levels (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards,
technical specifications or technical reports, some of which have already been published as
sections. Others will be published with the part number followed by a dash and completed by a
second number identifying the subdivision (example: 61000-6-1).

– 8 – 61000-4-1 © CEI:2000
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-1: Techniques d'essai et de mesure –

Vue d’ensemble de la série CEI 61000-4

1 Domaine d’application et objet

La présente partie 4-1 de la CEI 61000 porte sur les techniques d’essai et de mesure pour les
équipements électriques et électroniques (appareils et systèmes) dans leur environnement
électromagnétique.
L’objet de cette partie est de donner une aide aux comités techniques de la CEI ou autres
organismes, aux utilisateurs et aux fabricants de matériels électroniques sur l’application des
normes CEM de la série CEI 61000-4 sur les techniques de mesures et d’essais et de leur
fournir des recommandations générales concernant le choix des essais pertinents.
2 Références
2.1 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente partie de la CEI 61000.
Pour les références datées, les amendements ultérieurs ou les révisions de ces publications ne
s’appliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fondés sur la présente partie de
la CEI 61000 sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Pour les références non datées, la dernière édition
du document normatif en référence s’applique. Les membres de l'ISO et de la CEI possèdent
le registre des Normes internationales en vigueur.
CEI 60050(161):1990, Vocabulaire électrotechnique international – Chapitre 161: Compatibilité
électromagnétique
CEI 61000-1-1:1992, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 1: Généralités –
Section 1: Application et interprétation de définitions et termes fondamentaux
CEI 61000-2-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2: Environnement –
Section 5: Classification des environnements électromagnétiques. Publication fondamentale en

CEM
CEI 61000-3-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 2:
Limites pour les émissions de courant harmonique (courant appelé par les appareils ≤16 A par
*
phase)
Amendement 1 (1997)
Amendement 2 (1998)
CEI 61000-3-3:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 3:
Limitation des fluctuations de tension et du flicker dans les réseaux basse tension pour les
équipements ayant un courant appelé ≤16 A
___________
*
Il existe une édition consolidée 1.2 (1998) qui comprend la CEI 61000-3-2 (1995) ainsi que l'amendement 1
(1997) et l'amendement 2 (1998).

61000-4-1 © IEC:2000 – 9 –
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-1: Testing and measurement techniques –

Overview of IEC 61000-4 series

1 Scope and object
This part 4-1 of IEC 61000 covers testing and measuring techniques for electric and electronic
equipment (apparatus and systems) in its electromagnetic environment.
The object of this part is to give applicability assistance to the technical committees of IEC
or other bodies, users and manufacturers of electrical and electronic equipment on EMC
standards within the IEC 61000-4 series on testing and measurement techniques and to
provide general recommendations concerning the choice of relevant tests.
2 References
2.1 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this part of IEC 61000. For dated references, subsequent amendments
to, or revisions of, any of these publications do not apply. However, parties to agreements
based on this part of IEC 61000 are encouraged to investigate the possibility of applying the
most recent editions of the normative documents indicated below. For undated references, the
latest edition of the normative document referred to applies. Members of ISO and the IEC
maintain registers of currently valid International Standards.
IEC 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161:
Electromagnetic compatibility
IEC 61000-1-1:1992, Electromagnetic Compatibility (EMC) – Part 1: General – Section 1:
Application and interpretation of fundamental definitions and terms
IEC 61000-2-5:1995, Electromagnetic Compatibility (EMC) – Part 2: Environment – Section 5:
Classification of electromagnetic environments. Basic EMC Publication
IEC 61000-3-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 2: Limits

*
for harmonic current emissions (equipment input current ≤16 A per phase)
Amendment 1 (1997)
Amendment 2 (1998)
IEC 61000-3-3:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 3:
Limitation of voltage fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with
rated current ≤16 A
___________
*
There is a consolidated edition 1.2 (1998) that includes IEC 61000-3-2 (1995) and its amendment 1 (1997) and
amendment 2 (1998).
– 10 – 61000-4-1 © CEI:2000
CEI 61000-3-4:1998, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-4: Limites – Limitation
des émissions de courants harmoniques dans les réseaux basse tension pour les matériels

ayant un courant assigné supérieur à 16 A

CEI 61000-3-5:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 5:

Limitation des fluctuations de tension et du flicker dans les réseaux basse tension pour les

équipements ayant un courant appelé supérieur à 16 A

CEI 61000-4-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et

de mesure – Section 2: Essais d’immunité aux décharges électrostatiques. Publication

*
fondamentale en CEM
Amendement 1 (1998)
CEI 61000-4-3:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 3: Essai d’immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux
**
fréquences radioélectriques
Amendement 1 (1998)
CEI 61000-4-4:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 4: Essais d’immunité aux transitoires électriques rapides en salves.
Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 5: Essai d’immunité aux ondes de choc
CEI 61000-4-6:1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 6: Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques
CEI 61000-4-7:1991, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 7: Guide général relatif aux mesures d’harmoniques et d’inter-
harmoniques, ainsi qu’à l’appareillage de mesure, applicable aux réseaux d’alimentation et aux
appareils qui y sont raccordés
CEI 61000-4-8:1993, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 8: Essai d’immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau.
Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-9:1993, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 9: Essai d’immunité au champ magnétique impulsionnel. Publication
fondamentale en CEM
CEI 61000-4-10:1993, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 10: Essai d’immunité au champ magnétique oscillatoire amorti.
Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-11:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 11: Essais d’immunité aux creux de tensions, coupures brèves et
variations de tension
___________
*
Il existe une édition consolidée 1.1 (1999) qui comprend la CEI 61000-4-2 (1995) ainsi que l'amendement 1
(1998).
**
Il existe une édition consolidée 1.1 (1998) qui comprend la CEI 61000-4-3 (1995) ainsi que l'amendement 1
(1998).
61000-4-1 © IEC:2000 – 11 –
IEC 61000-3-4:1998, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3-4: Limits – Limitation of
emission of harmonic currents in low-voltage power supply systems for equipment with rated

current greater than 16 A
IEC 61000-3-5:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 5:

Limitation of voltage fluctuations and flicker in low-voltage power supply systems for equipment

with rated current greater than 16 A

IEC 61000-4-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement

*
techniques – Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication

Amendment 1 (1998)
IEC 61000-4-3:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
**
techniques – Section 3: Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
Amendment 1 (1998)
IEC 61000-4-4:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-5:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 5: Surge immunity test
IEC 61000-4-6:1996, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
IEC 61000-4-7:1991, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 7: General guide on harmonics and interharmonics measurements and
instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto
IEC 61000-4-8:1993, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 8: Power frequency magnetic field immunity test. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-9:1993, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 9: Pulse magnetic field immunity test. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-10:1993, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 10: Damped oscillatory field immunity test. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-11:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity test

___________
*
There is a consolidated edition 1.1 (1999) that includes IEC 61000-4-2 (1995) and its amendment 1 (1998).
**
There is a consolidated edition 1.1 (1998) that includes IEC 61000-4-3 (1995) and its amendment 1 (1998).

– 12 – 61000-4-1 © CEI:2000
CEI 61000-4-12:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 12: Essai d’immunité aux ondes oscillatoires. Publication fondamentale

en CEM
CEI 61000-4-14:1999, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-14: Techniques

d’essai et de mesure – Essai d’immunité aux fluctuations de tension. Publication fondamentale

en CEM
CEI 61000-4-15:1997, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et

de mesure – Section 15: Flickermètre – Spécifications fonctionnelles et de conception

(Révision de la CEI 60868)
CEI 61000-4-16:1998, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-16: Techniques
d’essai et de mesure – Essai d’immunité aux perturbations conduites en mode commun dans la
gamme de fréquences de 0 Hz à 150 kHz. Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-17:1999, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-17: Techniques
d’essai et de mesure – Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle sur une entrée de puissance
à courant continu. Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-24:1997, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 24: Méthodes d’essais pour les dispositifs de protection pour
perturbations conduites IEMN-HA. Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-28:1999, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-28: Techniques
d’essai et de mesure – Essai d’immunité à la variation de la fréquence d’alimentation
2.2 Autres références
CEI 61000-3-11*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-11: Limites – Limitations
des variations de tension, des fluctuations de tension et du papillotement dans les réseaux
publics d'alimentation basse tension, pour les équipements ayant un courant appelé ≤ 75 A et
soumis à un raccordement conditionnel
CEI 61000-4-13*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-13: Techniques d’essai et
de mesure – Essai d’immunité aux harmoniques, interharmoniques incluant les signaux
transmis sur le réseau électrique alternatif. Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-20*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-20: Techniques d’essai et
de mesure – Essais d'émission et d'immunité dans les guides d'onde TEM. Publication
fondamentale en CEM
CEI 61000-4-21*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-21: Techniques d’essai et
de mesure – Chambres réverbérantes. Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-23*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-23: Techniques d’essai et
de mesure – Méthodes d’essais pour les dispositifs de protection pour perturbations rayonnées
IEMN-HA et autres perturbations rayonnées. Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-25*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-25: Techniques d’essai et
de mesure – Prescriptions IEMN-HA et méthodes d’essai pour l'équipement et les systèmes
IEMN-HA
CEI 61000-4-27*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-27: Techniques d’essai et
de mesure – Essai d’immunité aux déséquilibres. Publication fondamentale en CEM
NOTE L'astérisque (*) indique que le document n'a pas encore été publié et que, par conséquent, il n'est pas
encore normatif.
61000-4-1 © IEC:2000 – 13 –
IEC 61000-4-12:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 12: Oscillatory waves immunity test. Basic EMC Publication

IEC 61000-4-14:1999, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-14: Testing and
measurement techniques – Voltage fluctuation immunity test. Basic EMC Publication

IEC 61000-4-15:1997, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 15: Flickermeter – Functional and design specifications (Revision of
IEC 60868)
IEC 61000-4-16:1998, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-16: Testing and

measurement techniques – Test for immunity to conducted common mode disturbances in the
frequency range 0 Hz to 150 kHz immunity test. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-17:1999, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-17: Testing and
measurement techniques – Ripple on d.c. input power port immunity test. Basic EMC
Publication
IEC 61000-4-24:1997, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 24: Test methods for protective devices for HEMP conducted disturbance.
Basic EMC Publication
IEC 61000-4-28:1999, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-28: Testing and
measurement techniques – Variation of power frequency, immunity test
2.2 Other references
IEC 61000-3-11*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3-11: Limits – Limitation of
voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems, for
equipment with rated current ≤75 A and subject to conditional connection
IEC 61000-4-13*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-13: Testing and measurement
techniques – Harmonics and interharmonics including mains signalling at a.c. power port, low
frequency immunity tests. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-20*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-20: Testing and measurement
techniques – Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides.
Basic EMC Publication
IEC 61000-4-21*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-21: Testing and measurement
techniques – Reverberation chambers. Basic EMC Publication

IEC 61000-4-23*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-23: Testing and measurement
techniques – Test methods for protective devices for HEMP and other radiated disturbance.
Basic EMC Publication
IEC 61000-4-25*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-25: Testing and measurement
techniques – HEMP immunity test methods for equipment and systems. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-27*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-27: Testing and measurement
techniques – Unbalance, immunity test. Basic EMC Publication
NOTE The asterisk (*) indicates that the document concerned has not yet been published and is therefore not yet
normative.
– 14 – 61000-4-1 © CEI:2000
CEI 61000-4-29*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-29: Techniques d’essai et
de mesure – Essais d’immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension

sur les ports d'entrée de puissance en courant continu

CEI 61000-4-30*, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-30: Techniques d’essai et

de mesure – Mesures des paramètres de la qualité de la tension. Publication fondamentale en

CEM
NOTE L'astérisque (*) indique que le document n’a pas encore été publié et que, par conséquent, il n’est pas
encore normatif.
3 Généralités
Dans le passé, les dispositifs et systèmes électromécaniques n’étaient généralement
pas sensibles aux perturbations électromagnétiques (c’est-à-dire aux perturbations électro-
magnétiques conduites et rayonnées et aux décharges électrostatiques). Les composants et
les matériels électroniques utilisés aujourd’hui sont beaucoup plus sensibles à ces
perturbations, particulièrement aux phénomènes «haute fréquence» et «transitoires».
L’immense expansion de l’utilisation des composants et matériels électroniques a augmenté le
danger et l’importance de mauvais fonctionnements, de dommages, etc. qui peuvent résulter
des perturbations électriques et électromagnétiques.
Les comités de produits (ou utilisateurs et fabricants de matériels) demeurent responsables du
choix approprié des essais d’immunité de la série CEI 61000-4 et des niveaux d’essai
applicables à leurs matériels. Toutefois, afin de renforcer la tâche de coordination et de
normalisation, il convient que les comités de produits ou les utilisateurs et les fabricants
prennent en considération les recommandations données dans cette norme.
4 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de la série CEI 61000-4, les définitions données dans la
CEI 60050(161) s'appliquent.
5 Structure des normes de la série CEI 61000-4
La structure des normes dans la série CEI 61000-4 suit en général les lignes directrices
données dans le Guide 107 de la CEI. Pour les normes fondamentales d’essai de la série,
cette structure est la suivante:
1. Domaine d’application
2. Références normatives
3. Généralités
4. Définitions
5. Niveaux d’essai/limites
6. Matériels d’essai
7. Montage d’essai
8. Procédures d’essai
9. Résultats d’essai et compte rendu d’essai

61000-4-1 © IEC:2000 – 15 –
IEC 61000-4-29*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-29: Testing and measurement
techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power ports,

immunity tests
IEC 61000-4-30*, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-30: Testing and measurement

techniques – Measurements of power quality parameters. Basic EMC Publication

NOTE The asterisk (*) indicates that the document concerned has not yet been published and is therefore not yet

normative.
3 General
In the past, electromechanical devices and systems were generally not sensitive to
electromagnetic disturbances (i.e. conducted and radiated electromagnetic disturbances and
electrostatic discharge). The electronic components and equipment now in use are much more
sensitive to these disturbances, particularly to "high-frequency" and "transient" phenomena.
The tremendous expansion in the use of electronic components and equipment has increased
the danger and importance of malfunctioning, damage, etc. which can arise from electric and
electromagnetic disturbances.
The product committees (or users and manufacturers of equipment) remain responsible for the
appropriate choice of the immunity tests from the IEC 61000-4 series and the test level to be
applied to their equipment. However, to enhance the task of coordination and standardization,
the product committees or users and manufacturers should consider the recommendations
given in this standard.
4 Definitions
For the purposes of this part of the IEC 61000-4 series, the definitions in IEC 60050(161)
apply.
5 Structure of the IEC 61000-4 series standards
The structure of standards within the IEC 61000-4 series in general follows the guidance given
in IEC Guide 107. For the basic testing standards of the series, that structure is as follows:
1. Scope
2. Normative references
3. General
4. Definitions
5. Test levels/limits
6. Test equipment
7. Test set-up
8. Test procedures
9. Test results and test report

– 16 – 61000-4-1 © CEI:2000
Il existe des normes, dans la série CEI 61000-4, qui ne sont pas des normes fondamentales
d’essai (par exemple la CEI 61000-4-7). Elles sont des normes de mesure (instrumentation et

procédures), qui ne suivent pas nécessairement la structure mentionnée ci-dessus.

6 Choix des essais
Des essais peuvent être appliqués aux matériels pour de multiples raisons, par exemple

• pour les essais de conception pendant le développement;

• pour des essais de type;
• pour des essais d’agrément;
• pour des essais en production.
Il convient que les matériels soient soumis à tous les essais nécessaires pour garantir la
fiabilité requise mais, pour des raisons économiques, le nombre d’essai peut être limité à un
minimum raisonnable. Il est acceptable que le nombre des essais d’agrément ou en production
soit réduit par rapport aux essais de type.
Le choix des essais à appliquer à un matériel particulier dépend de plusieurs facteurs, tels que
• types de perturbations affectant le matériel;
• conditions d’environnement;
• comportement et fiabilité requise;
• contraintes économiques;
• caractéristiques du matériel.
Compte tenu de la variété des matériels et des conditions d’environnement à prendre en
compte, il est difficile d’indiquer des règles exactes concernant le choix des essais. Ce choix
est principalement de la responsabilité du comité de produit concerné (sur la base de son
expérience). Dans des cas particuliers, ce choix peut être fixé par un accord entre le fabricant
et l’utilisateur. Dans tous les cas, la connaissance de l’environnement électromagnétique (série
CEI 61000-2, spécialement CEI 61000-2-5) et celle des aspects statistiques expliqués dans
la CEI 61000-1-1 est utile.
S’il existe une norme générique applicable, une norme de famille de produit ou une norme
spécifique de produit applicable, ces normes ont la priorité suivante (voir Guide CEI 107):
• norme spécifique de produit;
• norme de famille de produit;

• norme générique.
Si l’on considère que ces normes existantes ne sont pas applicables à un type particulier de
matériel, les brèves explications suivantes de chaque partie de la série CEI 61000-4 peuvent
être utiles. Un résumé est donné également aux Tableaux 1 et 2:
• Essai conformément à la CEI 61000-4-2 (Essais d’immunité aux décharges électro-
statiques)
En général, l’essai de décharge électrostatique est applicable à tous les types de matériels
utilisés dans un environnement où des décharges électrostatiques peuvent se produire. On
doit considérer les décharges directes et les décharges indirectes. Les matériels dont
l’utilisation est limitée aux environnements dont les conditions de décharge électrostatique
sont contrôlées et les produits non électroniques peuvent faire partie des exclusions.

61000-4-1 © IEC:2000 – 17 –
There are standards within the IEC 61000-4 series, which are not basic testing standards (for
example IEC 61000-4-7). They are standards related to measurement (instrumentation and

procedures), which do not necessarily follow the above-mentioned structure.

6 Selection of tests
Tests can be applied to equipment for many reasons, for example

• for design tests during development;

• for type tests;
• for acceptance tests;
• for production tests.
Equipment should be subjected to all tests necessary to provide the required reliability, but, for
economic reasons, the number of tests may be limited to a reasonable minimum. It is
acceptable that the number of tests for acceptance or production testing is reduced in
comparison with type tests.
The selection of the tests to be applied to a particular equipment depends on several factors,
such as
• types of disturbances affecting the equipment;
• environmental conditions;
• required reliability and behaviour;
• economic constraints;
• equipment characteristics.
With regard to the variety of equipment and environmental conditions to be considered, it is
difficult to indicate exact rules concerning the selection of tests. This selection is primarily
the responsibility of the product committee concerned (based on their experience). In special
cases, this can be fixed by agreement between the manufacturer and the user. In all cases,
knowledge of the electromagnetic environment (the IEC 61000-2 series, especially IEC 61000-2-5)
and awareness of the statistical aspects explained in IEC 61000-1-1 will be helpful.
If there is an existing applicable generic standard, product family standard or a dedicated
product standard, these standards have the following priority (see IEC Guide 107):
• dedicated product standard;
• product family standard;
• generic standard.
If it is considered that these standards are not applicable to a particular type of equipment, the
following short explanation of each part of the IEC 61000-4 series may be helpful. A summary
is also given in Tables 1 and 2.
• Test according to IEC 61000-4-2 (Electrostatic discharge immunity test)
In general, the electrostatic discharge test is applicable to all equipment which is used in an
environment where electrostatic discharges may occur. Direct and indirect discharges shall
be considered. Exclusions may include equipment limited for use in ESD-controlled
environmental conditions and non-electronic products.

– 18 – 61000-4-1 © CEI:2000
• Essai conformément à la CEI 61000-4-3 (Essai d’immunité aux champs électro-

magnétiques rayonnés aux fréquences radioélectriques)

En général, l’essai d’immunité au champ
...